全面提供功能材料電學(xué)（壓電，鐵電，介電, 熱電）全項(xiàng)目服務(wù)

高溫介電溫譜（溫度范圍：室溫~1000℃）

高低溫介電溫譜（溫度范圍：-160~500℃）

寬溫介電頻譜（室溫～500℃，頻率范圍0.1~10MHz）

電滯回線測試（陶瓷、單晶、薄膜、聚合物均可）

動態(tài)電滯回線、初始電滯回線、電滯 IV 曲線、疲勞、脈沖（PUND）、FORC測試、漏電流、C-V 曲線、損耗曲線，變溫測試功能。

高溫復(fù)阻抗測試：

室溫到900度，頻率范圍1Hz-10MHz

應(yīng)變曲線測試

室溫d33

原位變溫d33

電卡測試

電壓1200V，溫度-50℃~90℃

脈沖充放電測試

直流耐擊穿測試（陶瓷、單晶、薄膜、聚合物均可）

壓電陶瓷及薄膜，粉末全項(xiàng)極化

熱釋電測試

透射電鏡(TEM)

AFM、PFM測試（變溫）

Raman測試（變溫）

XRD（變溫）XRD精修

溫介電測量系統(tǒng):

溫譜和頻譜,介電測量頻率：10 Hz~ 100000 Hz,介電測量溫度：10K ~ 390K

超高溫介電測量系統(tǒng)：

介電測量頻率：10 Hz~ 100000 Hz,介電測量溫度：室溫 ~ 900℃

變溫壓電系數(shù)d33測量系統(tǒng)：

測量溫度區(qū)間：-100℃~室溫或室溫~500℃

變溫電致伸縮測量系統(tǒng)：

測量溫度區(qū)間：-100℃~室溫或室溫~200℃

變溫鐵電（P-E loop）測量系統(tǒng)：

此系統(tǒng)可以用于測量電卡效應(yīng)和變溫儲能性能，測量溫度區(qū)間-120℃~200℃）

鐵電變溫電鏡服務(wù)：

常規(guī)實(shí)驗(yàn)：高分辨、明暗場、衍射斑

升級特殊試驗(yàn)：

CBED（納米鐵電微疇結(jié)構(gòu)）

變溫電鏡拍攝（-150℃~500℃）

原位電場電鏡拍攝（Tip: 需要提前半年預(yù)約）

鐵電材料的機(jī)械性能測試：

應(yīng)力-應(yīng)變曲線 （壓縮模式, 可變溫測量）

儲能模量DMA測試

溫度：-150℃ ~400℃，頻率：0.2Hz~ 20 Hz

鐵電/鐵磁異質(zhì)結(jié)（多鐵材料）直接法測量動態(tài)磁電耦合系數(shù)(α)

金相顯微鏡觀察薄膜擊穿位置分布

EPR測試

XPS測試

吸波測試

電磁屏蔽測試

Kpfm測試

力學(xué)性能測試

開爾文電阻測試

光譜儀測試

傅里葉紅外測試

PL光譜測試

紫外–可見光和可見光分光光度法

材料加工服務(wù)：

磨?。芍?.07mm）、滾圓、拋光、倒角等