數(shù)字式四探針測試儀  型號：SZB-SX1934

產(chǎn)品特點
四探針測試儀是根據(jù)單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M 標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測試專用儀器。
儀器以大規(guī)模集成電路為核心部件，采用旋扭式開關(guān)控制，及各種工作狀態(tài)LED指示。應用微計算機技術(shù)，使得測量讀數(shù)更加直觀、快速。整套儀器體積小、功耗低、測量精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、易操作。

測量范圍 電阻率/Range：10-4—105Ω/□(可擴展/extended range) 方塊電阻(薄層電阻) /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 電阻/resistance：10-6—105Ω
可測晶片直徑（Z大） φ100mm(標配)，方形230×220mm(Z大)
Z大電阻測量誤差(按JJG508-87)
0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3%讀數(shù)±2個字
外形尺寸 400mm×440mm×120mm
儀器重量 電氣主機：約4kg   測試臺：約5kg
測試環(huán)境 溫度：23±2℃ 相對濕度：≤65％； 無高頻干擾 無強光照射
電源 220V±10%(50Hz) 功耗≤35W
備注 具備電腦接口