齒厚卡尺綜合誤差檢具

使用說明

一、用途：對齒厚卡尺的綜合誤差進行檢定。

二、主要技術(shù)參數(shù)

1、外形尺寸（表1）：

表1

2、測量范圍：（見表1）

3、直徑偏差＜±0.002毫米

4、表面光潔度不低于10

三、檢定方法：

1、根據(jù)表1選定相應(yīng)的尺寸進行檢測。

2、弦長S及相應(yīng)弦高h按下式計算：

S=d*Soca₀

h=d*（1-Sina0）2

（S值和h值均應(yīng)取至小數(shù)點后第二位）式中：S—弦長（毫米），h—弦高（毫米），d—圓柱直徑（毫米），a₀—基本齒形角（度）。

為了讀數(shù)方便，可將h值的小數(shù)點后第二位變?yōu)榕紨?shù)，然后按新的h值帶入下式求出S值：

S=2dh-h2  ……（3）

3、檢定時，先將弦高按預(yù)先計算好的h值定好，然后測量弦長S，實測S值與理論S值之差即為綜合誤差。

注：本表為基本齒形角a0=Sin200時h和S的相應(yīng)理論值。