摘要：一級(jí)平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間的誤差，下面小編細(xì)細(xì)分享。
、一級(jí)平晶的測(cè)量簡(jiǎn)單介紹

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1.一級(jí)平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。
2.一級(jí)平晶具有的平面性和平行性。
3.一級(jí)平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列，每個(gè)系列各分六組，每組四塊。
4.一級(jí)平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的誤差。平行平晶據(jù)有的平面性和平行性。
5.一級(jí)平晶：用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。
第二、一級(jí)平晶的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

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1.平晶精度：1級(jí)
2.平面度誤差：
a.直徑 30mm~60mm 0.03μm
b.直徑 80mm~150mm 0.05μm
c.直徑 200mm~300mm 0.06μm
d.直徑 300mm~600mm 0.08μm
3.平行度誤差：Ⅰ級(jí) 0.6μm
4.平晶的材料：A級(jí)