天瑞X射線熒光光譜儀性能

       EDX-1800B能量色散X射線熒光光譜儀應(yīng)用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測(cè)量、工業(yè)鍍層厚度測(cè)量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體以及各種合金、貴金屬成份分析.

       X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象，適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得zui多也zui廣泛。 X射線熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)：
 1) 分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定度有關(guān)，但一般都很短，10～300秒就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。2) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。3) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。4) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。5) 分析度高。目前含量測(cè)定已經(jīng)達(dá)到ppm級(jí)別。6) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。