電鍍層測(cè)厚儀廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測(cè)儀器，

    是專門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款儀器，可無損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。

    電鍍層測(cè)厚儀的基本測(cè)量原理：

    射線在穿透一定厚度的物質(zhì)時(shí)，其強(qiáng)度呈指數(shù)規(guī)律衰減，這和半衰期的公式相似，其公式為：

    I=Tr*EXP(-UX)

    Tr為初始射線強(qiáng)度，I為穿過物體后的射線強(qiáng)度，U為衰減系數(shù)，X為射線穿過的厚度。

    對(duì)于不同的材料，衰減系數(shù)U是不同的，因此使用射線測(cè)量厚度時(shí)必須知道被測(cè)材料的U值。一般而言，材料密度越大，其U值就越大，比如鉛的密度在天然非放射性元素中的密度是zui大的，其相應(yīng)的射線阻擋能力就越強(qiáng)，因此在核實(shí)驗(yàn)中用作屏障，與之類似的就是鉛玻璃。

電鍍層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量鍍層厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電阻感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，這個(gè)距離即鍍層厚度。