WD-XRF與ED-XRF兩種儀器，只能互補(bǔ)不能替代？X射線熒光分析儀是一種比較的可以對(duì)多元素進(jìn)行快速同時(shí)測(cè)定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測(cè)元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級(jí)躍遷而發(fā)出次級(jí)X射線（X-熒光）。
    波長(zhǎng)和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個(gè)物理量。波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）。是用晶體分光而后由探測(cè)器接受經(jīng)過衍射的特征X射線信號(hào)。如果分光晶體和控測(cè)器做同步運(yùn)動(dòng)，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內(nèi)各種元素所產(chǎn)生的特征X射線的波長(zhǎng)及各個(gè)波長(zhǎng)X射線的強(qiáng)度，可以據(jù)此進(jìn)行特定分析和定量分析。該種儀器產(chǎn)生于50年代，由于可以對(duì)復(fù)雜體進(jìn)行多組同時(shí)測(cè)定，受到關(guān)注，特別在地質(zhì)部門，先后配置了這種儀器，分析速度顯著提高，起了重要作用。
    隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步在60年代初發(fā)明了半導(dǎo)體探測(cè)儀器后，對(duì)X熒光進(jìn)行能譜分析成為可能。能譜色散型X射線熒光光譜儀（ED-XRF），用X射線管產(chǎn)生原級(jí)X射線照射到樣品上，所產(chǎn)生的特征X射線（熒光）這節(jié)進(jìn)入SI(LI)探測(cè)器，便可以據(jù)此進(jìn)行定性分析和定量分析，臺(tái)ED-XRF是1969年問世的。近幾年來，由于商品ED-XRF儀器及儀表計(jì)算機(jī)軟件的發(fā)展，功能完善，應(yīng)用領(lǐng)域拓寬，其特點(diǎn)，優(yōu)越性日益搜到認(rèn)識(shí)，發(fā)展迅猛。
    波長(zhǎng)色散型與能量色散型的區(qū)別
    雖然光波色散型（WD-XRF） X 射線熒光光譜儀與能量色散型（ED-XRF）X射線熒光光譜儀同屬于X射線熒光分析儀，它們產(chǎn)生信號(hào)的方法相同，zui后得到的波譜也為相似，但由于采集數(shù)據(jù)的方式不同，WD-XRF（波譜）與ED-XRF(能譜)在原理和儀器結(jié)構(gòu)上有所不同，功能也有區(qū)別。
    1、原理區(qū)別
    X射線熒光光譜法，是用X射線管發(fā)出的初級(jí)線束輻照樣品，激發(fā)各化學(xué)元素發(fā)出二次譜線（X-熒光）。
    波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀（WD-XRF）是用分光近體將熒光光束色散后，測(cè)定各種元素的特征X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度，從而測(cè)定各種元素的含量。
    能量色散型熒光光譜儀（ED-XRF）是借組高分辨率敏感半導(dǎo)體檢查儀器與多道分析器將未色散的X射線熒光按光子能量分離X色線光譜線，根據(jù)各元素能量的高低來測(cè)定各元素的量，由于原理的不同，故儀器結(jié)構(gòu)也不同。
    2、結(jié)構(gòu)區(qū)別
    波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀（WD-XRF），一般由光源（X-射線管），樣品室，分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。
    為了準(zhǔn)且測(cè)量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系統(tǒng)安裝在一個(gè)的測(cè)角儀上，還需要一龐大而并復(fù)雜的機(jī)械運(yùn)動(dòng)裝置。由于晶體的衍射，造成強(qiáng)度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要打，一般為2-3千瓦，單X射線管的效率低，只有1%的功率轉(zhuǎn)化為X射線輻射功率，大部分電能均轉(zhuǎn)化為而能產(chǎn)生高溫，所以X射線管需要專門的冷卻裝置（水冷或油冷），因此波譜儀的價(jià)格往往比能譜儀高。
    能量色散型熒光光譜儀（DE-XRF），一般由光源（X-線管），樣品室和檢測(cè)系統(tǒng)等組成，與波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀的區(qū)別在于他不分光晶體，由于這一特點(diǎn)使能量色散型熒光光儀具有如下的優(yōu)點(diǎn)：
    1、儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單。裝置既省略了晶體的運(yùn)動(dòng)裝置，也無需調(diào)整。還避免了晶體衍射所照成的前度損失，光源使用的X射線管功率低，一般在100W一下，不需要昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統(tǒng)，空氣冷卻即可，節(jié)省電力。
    2、 能量色散型熒光光儀的光源。樣品，檢測(cè)器彼此靠得越近，X射線的利用率很高，不需要光學(xué)聚集，在累計(jì)整個(gè)光譜時(shí)，對(duì)樣品位置變化不象波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀那樣敏感，對(duì)樣品形狀也無特殊要求。
    3、在能量色散型熒光光譜儀中，樣品發(fā)出的全部特征X射線光子同時(shí)進(jìn)入檢測(cè)器，這樣奠定了使用多道分析器和熒光同時(shí)累計(jì)和現(xiàn)實(shí)全部能譜（包括背景）睇基礎(chǔ)，也能清楚地表明背景和干擾線。因此，半導(dǎo)體檢測(cè)器X射線光譜儀能比晶體X射線光譜儀快而方便地完成定性分析工作。
    4、能量色散型熒光光譜儀減小了化學(xué)狀態(tài)引起的分析線波長(zhǎng)的漂移影響。由于同時(shí)累積還減少了一起的漂移影響，提高凈計(jì)算的統(tǒng)計(jì)精度，可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時(shí)累積觀察和測(cè)量所有元素，而不是按特定譜線分析特定元素。因此，減少偶然錯(cuò)誤判斷某元素的可能性。
    3、功能區(qū)別
    考慮到各種情況，能量色散型熒光光譜儀和波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀的檢測(cè)限基本相同。
    但在（高能光子）范圍內(nèi)能量色散型熒光光譜儀分辨率好些，在長(zhǎng)波（低能光子）范圍內(nèi)，波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀的分辨率好些。
    就定性分析而言，在分析多種元素時(shí)能量色散型熒光光譜儀優(yōu)于單道晶體譜儀。就測(cè)量個(gè)別分析元素而言，波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀更優(yōu)。如果分析的元素事先不知道，用能量色散較好，而分析元素已知?jiǎng)t用多道晶體色散儀好。
    對(duì)易受放射性損傷的樣品，如果液體，有機(jī)物（可能發(fā)生輻射分解），玻璃品，工藝品（可能發(fā)生褪色）等，用能量色散型熒光光譜儀分析特別有利。能量色散型熒光光譜儀很適合動(dòng)態(tài)系統(tǒng)的研究。如在催化，腐蝕，老化，磨損，改性和能量轉(zhuǎn)換等與表面化學(xué)過程有關(guān)的研究。

    總之，WD-XRF與ED-XRF兩種儀器，各有所有優(yōu)點(diǎn)和不足，它們只能互補(bǔ)，而不能替代。

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