江蘇天瑞儀器股份有限公司

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天瑞鍍層測厚儀測量原理及分類

發(fā)布時(shí)間:2017-12-03瀏覽次數(shù):1640返回列表

對(duì)材料表面起保護(hù),裝飾作用的覆蓋層,如涂層,鍍層,敷層,貼層,化學(xué)生成膜等,在些和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)。

  覆層厚度測量已成為加業(yè)、表面程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的要手段。為使產(chǎn)品化,我出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度有了明確要求。
  覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。
  X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復(fù)雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的緣覆層測厚時(shí)采用。
  隨著術(shù)的日益步,特別是近年來引入微機(jī)術(shù)后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多能、、實(shí)用化的方向了步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米,度可達(dá)到1%,有了大幅度的提。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價(jià)廉,是業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。
  采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測作經(jīng)濟(jì)地行。