鍍層測(cè)厚儀是利用激光熱輻射傳到時(shí)間原理，可以測(cè)量濕潤(rùn)的或干燥的圖層，如可溶性和水基漆，粉狀漆或琺瑯質(zhì)薄膜。這些薄膜可以是涂覆在金屬、橡膠和陶瓷上。是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類(lèi)儀表中有利用α射線(xiàn)、β射線(xiàn)、γ射線(xiàn)穿透特性的放射性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。以下是使用鍍層測(cè)厚儀時(shí)須特別留意的五個(gè)要點(diǎn)，為了確保儀器的正常使用以及測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性，大家有要了解下!
、曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
二、基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，行校準(zhǔn)后，可以測(cè)量。
三、讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同，因此須在每測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局差異，也要求在給定的面積內(nèi)行多次測(cè)量，表面粗時(shí)更應(yīng)如此。
四、基體金屬特性
對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
五、邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處行測(cè)量。