、 本公司少子壽命測試儀產(chǎn)品防偽碼

　　敬告用戶：近市場上出現(xiàn)假冒偽劣或山寨我司的產(chǎn)品，部分冒牌的儀器上甚至冒用我司，請各大用戶注意。如果用戶是通過中間商購買我司產(chǎn)品的，來電我司咨詢此中間商是否為我司授權(quán)的經(jīng)銷商，已購買儀器的用戶可來電我司進行核實。對于相關(guān)公司冒牌我司產(chǎn)品帶來侵犯我司名稱、商標(biāo)、知識產(chǎn)權(quán)的產(chǎn)品，我司將追究其違法、違規(guī)相關(guān)的經(jīng)濟和法津責(zé)任

　　第二、 少子壽命測試儀一款經(jīng)濟實用

　　少子壽命測試儀一款經(jīng)濟實用的硅晶片少子壽命測量儀器，控制裝置既適用于研究也適用于。采用準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)(QSSPC) 測量方法測量，此方法是測量硅片，摻雜物擴散，和少子壽命的佳方法。

　　該儀器參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項目之一。儀器靈敏度高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。

　　第三、少子壽命測試儀產(chǎn)品參數(shù)

　　1.測試單晶電阻率范圍：>2Ω.cm。

　　2.可測單晶少子壽命范圍：5μS-7000μS。

　　3.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm。