少子壽命測試儀少子壽命是越大越好?

　　、少子壽命測試儀常規(guī)測試項目之一

　　少子壽命測試儀器采用了的測量和分析，包括類似平穩(wěn)狀態(tài)，測量方法。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。

　　第二、少子壽命測試儀少子壽命是越大越好?

　　少子壽命是越大越好,就目前的太陽能級硅來說能有5us已經(jīng)不錯了,如果太低(如小于1us)將嚴(yán)重影響電池效率.現(xiàn)在太陽能企業(yè)要求越來越高,多晶要求大于2,單晶要求大于10.

　　第三、單晶硅片的少子壽命和多晶硅片的少子壽命?

　　處于熱平衡狀態(tài)下的半導(dǎo)體,在一定溫度下,載流子的濃度是一定的,稱為平衡載流子濃度, 如果對半導(dǎo)體施加外界作用,破壞了熱平衡的條件,稱為非平衡狀態(tài).比平衡狀態(tài)多出來的這部分載流子稱為非平衡載流子。非平衡載流子分為非平衡多數(shù)載流子和非平衡少數(shù)載流子, 對于n型半導(dǎo)體材料,多出來的電子就是非平衡多數(shù)載流子,空穴則是非平衡少數(shù)載流子.對p型半導(dǎo)體材料則相反, 產(chǎn)生非平衡載流子的外界作用撤除以后,它們要逐漸衰減以致消失,后載流子濃度恢復(fù)到平衡時的值, 非平衡少數(shù)載流子的平均生存時間稱為非平衡少數(shù)載流子的壽命,簡稱少子壽命。