北京亞歐德鵬專業(yè)少子壽命測試儀價格合理

　　北京亞歐德鵬科技有限公司銷售的少子壽命測試儀(HS-CLT)，是一款功能強大的少子壽命測試儀，這里的少子,即少數(shù)載流子,是半導(dǎo)體物理的概念.它相對于多子而言。

　　多子和少子的形成:五價元素的原子有五個價電子,當(dāng)它頂替晶格中的四價硅原子時,每個五價元素原子中的四個價電子與周圍四個硅原子以共價鍵形式相結(jié)合,而余下的一個就不受共價鍵束縛,它在室溫時所獲得的熱能足以便它掙脫原子核的吸引而變成自由電子.出于該電子不是共價鍵中的價電子,因而不會同時產(chǎn)生空穴.而對于每個五價元素原子,盡管它釋放出一個自由電子后變成帶一個電子電荷量的正離子,但它束縛在晶格中,不能象載流子那樣起導(dǎo)電作用.這樣,與本征激發(fā)濃度相比,N型半導(dǎo)體中自由電子濃度大大增加了,而空穴因與自由電子相遇而復(fù)合的機會增大,其濃度反而更小了。

　　測試壽命方法的一個重要之處在于它能夠在大范圍光強變化區(qū)間內(nèi)對過剩載流子進行測量，同時可以結(jié)合 SRH模型，得出各種復(fù)合壽命，如體內(nèi)缺陷復(fù)合中心引起的少子復(fù)合壽命、表面復(fù)合速度等隨著載流子濃度的變化關(guān)系。