XGT-1700WRX射線熒光光譜儀 『Horiba RoHS/ELV/WEEE分析儀』

測定數(shù)據(jù)

黃銅中Cd41ppm?Pb495ppm 重復(fù)測定為例

照射徑Ø3mm?測定時(shí)間300秒

 Cd濃度(ppm)  Pb濃度(ppm)
 
1 37.3  509.2
 
2 41.2 488.4
 
3 40.2  492.9
 
4 46.8 486.5
 
5 43.3 482.6
 
平均值41.8 491.9
 
標(biāo)準(zhǔn)偏差 3.6 10.3
 
CV 8.5% 2.1%
無電解Ni鍍層(14.3μm)中 Pb700ppm 重復(fù)測定為例

照射徑Ø3mm?測定時(shí)間300秒
 Pb濃度(ppm) 膜厚(μm)
1 735.7 13.7
2 708.8 14.4
3 750  13.5
4 707.8 13.9
5 693 13
 
平均值 719.1 13.7
標(biāo)準(zhǔn)偏差 23.2  0.5
CV 3.2%  3.7%

產(chǎn)品性能
XGT-1700WR系列
X線照射徑  Ø3mm標(biāo)準(zhǔn) Ø1.2mm或Ø100μm (可選)

一次X線濾膜
Ø3mm照射徑:4種自動(dòng)切換
Ø1.2mm照射徑:5元素同時(shí)分析用濾膜或無濾膜
Ø100μm照射徑:無濾膜
 
二次X線濾膜
 用于金屬中有害元素高靈敏度測定的標(biāo)準(zhǔn)裝備
(ON/OFF自動(dòng)切換)
 
X線檢測器
液體氮?dú)饫鋮s3L
高純度Si檢測器
樣品形狀
zui大460×360×149mm