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nanoIR 納米級多功能紅外光譜系統(tǒng)(NanoIR)

瑪瑞柯(上海)貿(mào)易有限公司
會員指數(shù): 企業(yè)認(rèn)證:  

價格:電議

所在地:上海

型號:nanoIR

更新時間:2016-06-13

瀏覽次數(shù):1851

公司地址:上海市浦東新區(qū)繡川路581號A座813

李經(jīng)理(女士)  

產(chǎn)品簡介

NanoIR平臺是由美國Anasys儀器公司所推出的一款基于AFM探針的檢測工具,它可以在納米尺度下揭示試樣的化學(xué)組成。這項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室解決

公司簡介

  • 瑪瑞柯(上海)貿(mào)易有限公司【MASRC(SHANGHAI)LIMITED】是一家專業(yè)代理國外先進(jìn)材料表征儀器的公司,總部設(shè)在香港,是美國Anasys 和 Rheosys儀器公司的中國區(qū)獨(dú)家代理商。我公司正致力于把世界一流水準(zhǔn)的高科技、高品質(zhì)和良好信譽(yù)的材料分析儀器引進(jìn)到中國。目前在科研、教育和工業(yè)界已經(jīng)擁有了一大批一流水準(zhǔn)的高端用戶群體。我們將為中國先進(jìn)材料技術(shù)領(lǐng)域的科學(xué)研究提供有效的研究手段和專業(yè)優(yōu)質(zhì)的技術(shù)服務(wù)。

    “誠信共贏、迅速反應(yīng)、優(yōu)質(zhì)服務(wù)” 是我們的經(jīng)營理念,公司非常重視在最短時間為客戶提供服務(wù)。我們的銷售人才,技術(shù)專家,售后服務(wù)人員將以其精湛的專業(yè)知識和豐富的經(jīng)驗(yàn)為廣大客戶提供專業(yè)的產(chǎn)品技術(shù)支持和售后服務(wù)。

    我們真誠的希望與各位同仁攜手合作,為推動我國先進(jìn)材料領(lǐng)域的研究發(fā)展做出貢獻(xiàn)。

                           
展開

產(chǎn)品說明

 NanoIR平臺是由美國Anasys儀器公司所推出的一款基于AFM探針的檢測工具,它可以在納米尺度下揭示試樣的化學(xué)組成。這項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室解決方案集成了紅外光譜和原子力顯微鏡的核心技術(shù),使獲得的紅外光譜在空間分辨率上大大超越光學(xué)衍射限。

除了可以揭示化學(xué)組成,nanoIR系統(tǒng)還可以對試樣的局部形貌,機(jī)械性能,熱學(xué)性能進(jìn)行高分辨率表征。該系統(tǒng)潛在的應(yīng)用范圍橫跨聚合物學(xué),材料科學(xué),生命科學(xué)以及對結(jié)構(gòu)和性能關(guān)系深入研究的相關(guān)領(lǐng)域。

產(chǎn)品圖片

NanoIR平臺集成了連續(xù)可調(diào)紅外光源和AFM檢測模塊,能夠綜合形貌分析和光譜測量對試樣進(jìn)行表征

      如上圖所示,試樣固定在硒化鋅棱鏡上。用戶可以通過視頻顯微鏡快速發(fā)現(xiàn)其感興趣的特征點(diǎn)。AFM探針針尖能夠?qū)υ嚇有蚊策M(jìn)行高分辨率表征,并檢測試樣的局部紅外吸收。

                 
  

主要技術(shù)參數(shù)

頻譜范圍

900 cm-1~2000cm-1和2235 cm-1~3600cm-1

光譜分辨率

~4 cm-1

zui大成像尺寸

80μm×80μm

光譜采集時間

~1分鐘/光譜(或更少)

參數(shù)可能會有所變更

 

多功能檢測

NanoIR系統(tǒng)可以為您提供一個包含了表面形貌,分子光譜,機(jī)械性能和熱學(xué)性能在內(nèi)的的掃描成像分析。高分辨率形貌分析由AFM測試得到, 而局部化學(xué)表征則由增強(qiáng)光熱誘導(dǎo)共振(PTIR)技術(shù)的紅外光譜完成。PTIR技術(shù)也支持接觸共振頻率檢測同時對可各種材料的成像分析。

 (A)EAA和尼龍多層聚合物的AFM圖像。(B)界面處的線性光譜掃描結(jié)果,顯示了CH和NH的吸收峰。(C)化學(xué)組成和機(jī)械性能的同時表征。綠色曲線顯示了在2900cm-1到2950cm-1之間CH鍵吸收強(qiáng)度,而藍(lán)色曲線則顯示了界面處機(jī)械剛度的相對變化。(D)納米熱分析模塊測試(nanoTA)結(jié)果表明尼龍和EAA存在不同的軟化溫度。

儀器功能

檢測功能

功用

光熱誘導(dǎo)共振(PTIR)

利用納米紅外光譜表征化學(xué)組分

接觸共振

同時進(jìn)行機(jī)械性能的掃描成像

AFM

獲取高分辨率表面形貌

納米熱分析

檢測局部熱轉(zhuǎn)變溫度


 

NanoIR軟件

美國Anasys儀器公司的nanoIR軟件能夠很容易獲取納米尺度下吸收光譜。先,選定試樣的一個區(qū)域,采集AFM圖像,然后點(diǎn)擊你希望獲取紅外光譜的位置。該軟件能夠自動記錄你所點(diǎn)擊的位置,從而讓空間形貌和光譜信息之間的聯(lián)系變得非常容易。同時,光譜也很容易被輸送到第三方光譜分析軟件。

      




本頁產(chǎn)品地址:http://www.bhxfsw.cn/sell/show-3056393.html
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