TSI3330 美國TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀

本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強度和的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和的數(shù)據(jù)。

同時，TSI工廠嚴(yán)格的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)也確保儀器的性。3330不僅可以單獨使用，而且還可以放入TSI的外場環(huán)境箱中在野外使用。

美國TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀 產(chǎn)品特點：

· 0.5微米時粒徑分辨率小于5%

· 粒徑通道用戶可調(diào)

· 檢測粒徑范圍：0.3-10微米，多16通道

· 顆粒物粒徑感應(yīng)范圍：0.5至25 mm

· 檢測濃度范圍：0-3000 個 /cm3

· 彩色觸摸屏，直觀的用戶界面

· 完全滿足ISO 21501-01/04要求

· 輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數(shù)濃度和質(zhì)量濃度

· 收集的采樣膜可進(jìn)行稱重測量和化學(xué)分析

· 電池電量可供20小時的操作

· 多可存儲30000個數(shù)據(jù)

· 記錄每個樣品的溫度和壓力

美國TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀 技術(shù)參數(shù)
測量原則 ：
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制：
zui高3,000個/ cm3 （3,000,000個/L）
質(zhì)量濃度 ：
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑：
檢測粒徑范圍：0.3-10 mm 
粒徑分辨率：0.5mm時5%（符合ISO 21501-01/04）
粒徑通道 ：多16通道，用戶可調(diào)