產(chǎn)品簡(jiǎn)介
法國(guó)Phasics公司的SID4波前探測(cè)器，能夠提供高分辨率的相位圖，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為160ｘ120個(gè)采樣點(diǎn)，zui高分辨率可達(dá)400ｘ300。SID4探測(cè)器能夠匹配CCD整個(gè)探測(cè)范圍，用于不同波長(zhǎng)光而無需額外校準(zhǔn)，也能用于多色光源，并能
產(chǎn)品說明
法國(guó)Phasics公司研發(fā)“多距離干涉儀”創(chuàng)新技術(shù)的高分辨率波前分析儀，其應(yīng)用在光學(xué)測(cè)量學(xué)中（光學(xué)特性和表面分析系統(tǒng)）；也應(yīng)用在激光測(cè)量學(xué)中（分析儀和相適應(yīng)的光學(xué)環(huán)）；同樣應(yīng)用在生物領(lǐng)域（成像相位）等。
該波前傳感器通過對(duì)160×120取樣點(diǎn)的測(cè)量，可以給出相位和強(qiáng)度的分布圖，并可提供的激光束分析功能。
特點(diǎn)：
高分辨率（400×300的測(cè)量點(diǎn)陣）
消色差測(cè)量
高動(dòng)態(tài)范圍
高靈敏度
設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔緊湊
高
測(cè)量可重復(fù)性高
波前探測(cè)技術(shù)具有直接測(cè)量光路系統(tǒng)像差的能力，并且無需額外的過渡鏡。探測(cè)器可以測(cè)量波前傳輸時(shí)球面波的偏差。即使有大的光束偏差（如數(shù)值孔徑高達(dá)0.75），仍然可以做到光路系統(tǒng)與探測(cè)器間不使用過渡鏡就能測(cè)試。SID4探測(cè)器為光學(xué)測(cè)量配置了專用的Kaleo軟件。該軟件允許在一次測(cè)量中提供完整的測(cè)量項(xiàng)目的光學(xué)量值特征：像差，PSF，MTF，有效焦距等。定制的特征報(bào)告也可編輯。
本頁(yè)產(chǎn)品地址：http://www.bhxfsw.cn/sell/show-4681665.html
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