產(chǎn)品簡(jiǎn)介
Acculogic FLS980飛針測(cè)試儀、ICT7000內(nèi)部電路測(cè)試儀和ScanNavigator邊界掃描測(cè)試套件，可確保未來(lái)的技術(shù)不會(huì)超過(guò)我們今天的測(cè)試能力。這些產(chǎn)品是非常的，可擴(kuò)展的解決方案用來(lái)解決廣泛的測(cè)試挑戰(zhàn)。
公司簡(jiǎn)介
北京銳峰先科技術(shù)有限公司是一家致力于為中國(guó)廣大客戶(hù)提供先進(jìn)的半導(dǎo)體設(shè)備、SMT設(shè)備、LCD設(shè)備、易耗品、元器件和完善售后服務(wù)的供應(yīng)商。公司代理一些全球著名的相關(guān)產(chǎn)品；擁有一批經(jīng)驗(yàn)豐富的銷(xiāo)售和技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì)，并在北京，上海，深圳，西安等地，均有辦事處為客戶(hù)提供一系列的產(chǎn)品及技術(shù)服務(wù)。
公司一貫堅(jiān)持：
“yi流的產(chǎn)品；yi流的服務(wù)；yi流的合作關(guān)系”的經(jīng)營(yíng)理念；
“顧客滿(mǎn)意，共同發(fā)展”的經(jīng)營(yíng)目標(biāo)；
“至誠(chéng)至信，至新至美”的公司精神；
“團(tuán)隊(duì)合作，以人為本”的核心價(jià)值。
通過(guò)長(zhǎng)期的不懈努力，我們已與很多重要客戶(hù)：如一些全球著名半導(dǎo)體芯片制造商像因特爾，三星，富士康，Stataschippac，Bosch，ST，華為，比亞迪等等，以及國(guó)內(nèi)一些重大研究院校等等都建立了長(zhǎng)期合作的關(guān)系。公司將繼續(xù)按照市場(chǎng)經(jīng)濟(jì)的規(guī)則要求，不斷地發(fā)展和擴(kuò)大。真誠(chéng)地希望為廣大客戶(hù)提供更多、更好的服務(wù)；與更多的供應(yīng)廠(chǎng)商建立更為廣泛和緊密的合作關(guān)系,共同為業(yè)界的繁榮與發(fā)展作出貢獻(xiàn).
展開(kāi)
產(chǎn)品說(shuō)明
Acculogic FLS980 飛針測(cè)試儀
Acculogic flying probe testers
Acculogic先進(jìn)的產(chǎn)品，F(xiàn)LS980系列飛針測(cè)試儀、ICT7000內(nèi)部電路測(cè)試儀和ScanNavigator邊界掃描測(cè)試套件，這些產(chǎn)品是先進(jìn)的，可擴(kuò)展的解決方案用來(lái)解決廣泛的測(cè)試挑戰(zhàn)。
Acculogic系統(tǒng)可用來(lái)適應(yīng)各種各樣的應(yīng)用和客戶(hù)。我們高性能測(cè)試系統(tǒng)的核心是可以接受下一代測(cè)試的挑戰(zhàn)。
FLS980 Series III 產(chǎn)品特點(diǎn)
全功能雙邊系統(tǒng)
閉環(huán)AccuFastTM系統(tǒng)，最小1um的步進(jìn)精度，正負(fù)10um定位重復(fù)性
最高可配置22組閉環(huán)飛針
可程序控制探針角度正負(fù)6度
電測(cè)試能力強(qiáng)，包含模擬信號(hào)、數(shù)字信號(hào)、混合信號(hào)和邊界掃描
先進(jìn)的激光、光學(xué)和熱測(cè)量以及檢視能力
帶電和功能測(cè)試（可至GHz頻率范圍）
通過(guò)固定旋釘最高可至128個(gè)非復(fù)用測(cè)試通道
潛伏開(kāi)路探測(cè)
逆向工程工具套件
最大可支持32”x 38” (813 x 965 mm) 電路板
測(cè)試入口
不斷縮小的部件尺寸和更密集的芯片級(jí)封裝技術(shù)對(duì)測(cè)試工程師提出了新的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)上安裝在pcb上的測(cè)試板正在從許多設(shè)計(jì)中消失，從而減少物理測(cè)試入口。. 為了迎接新的挑戰(zhàn)，飛行探測(cè)器必須以良好的精度進(jìn)行操作。FLS980采用高度可重復(fù)的閉環(huán)直線(xiàn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器和類(lèi)似于操縱桿的可變角度探頭模塊，實(shí)現(xiàn)了良好的物理探測(cè)，并保證了像01005s這樣的小部件的可重復(fù)探測(cè). FLS980在被測(cè)單元(UUT)的組件和焊點(diǎn)一側(cè)提供雙面探測(cè)和最多22個(gè)探頭模塊，以促進(jìn)有效率的單次測(cè)試。
精確
高分辨率基準(zhǔn)攝像機(jī)和激光考慮了翹曲因素，允許在X, Y和z平面的可測(cè)試板區(qū)域進(jìn)行精確的板檢測(cè)。精密閉環(huán)平面直線(xiàn)電機(jī)(shuttles)與AccuFastTM驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)(1微米最小步長(zhǎng)，10微米定位重復(fù)性)獨(dú)立移動(dòng)探針模塊和攝像機(jī)。探測(cè)模塊利用等長(zhǎng)度的同位探針接觸UUT上的目標(biāo)點(diǎn)。每個(gè)可變角度探測(cè)模塊都可以從任意方向從0到6自動(dòng)調(diào)整探測(cè)角度。結(jié)合獨(dú)立的shuttle和探測(cè)模塊(XYZ)運(yùn)動(dòng)，確保良好的測(cè)試點(diǎn)的可測(cè)性。現(xiàn)在，你可以依靠FLS980來(lái)測(cè)試板，即使它的布局、尺寸或技術(shù)，使傳統(tǒng)的在線(xiàn)測(cè)試和其他飛針測(cè)試成為障礙。
探測(cè)角度
印刷電路板的翹曲是SMT電路板裝配、檢驗(yàn)和測(cè)試過(guò)程中需要考慮的一個(gè)常見(jiàn)問(wèn)題。在飛行探針測(cè)試中，板翹曲導(dǎo)致偏移而改變了目標(biāo)點(diǎn)的物理位置。
當(dāng)探測(cè)角度為0度時(shí)，板曲不會(huì)造成探測(cè)誤差，但隨著探測(cè)角度的增大，探測(cè)誤差也增大。使用15度探測(cè)角度在0.5毫米翹曲的板上不能可靠地探測(cè)到 0201器件的標(biāo)準(zhǔn)焊盤(pán)。將探測(cè)角度降低到3或4度可以減少與翹曲相關(guān)的不確定性，并得到可靠的探測(cè)。FLS980可變角度探測(cè)模塊提供良好探測(cè)，任意方向從-6度傾斜至+6度，探針定向測(cè)試點(diǎn)，覆蓋約60mm x 60mm的面積。隨著探測(cè)角度的增加，探頭滑移增加。探頭滑移會(huì)損壞焊盤(pán)和過(guò)孔，并在板上留下不可接受的痕跡。
探針模組類(lèi)型:
FLS980系統(tǒng)可以在頂部和底部配置最多22根飛針，以確保良好的測(cè)試覆蓋率和較小測(cè)試時(shí)間。系統(tǒng)有三種類(lèi)型的飛針模塊可選：
APM 800 先進(jìn)型飛針模組，探測(cè)角度可編程。( 0 to +6°)
BPM 700基本型飛針模組，探測(cè)角度固定 (+6°)
VPM 600 (+0°) 垂直型飛針模組
系統(tǒng)可配置多種可變角度和固定角度飛針模組.
飛針驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)具有1微米最小步距、10微米定位重復(fù)性的定位分辨率，可在生產(chǎn)環(huán)境中可靠的探測(cè)100微米的目標(biāo)尺寸。Acculogic公司將繼續(xù)開(kāi)發(fā)更高精度的飛針模組和識(shí)別系統(tǒng)，作為未來(lái)的升級(jí).
飛針模組規(guī)格:
3D 可編程角度 : 0° to 6° (+6° 的固定角度的飛針)
速度可編程
飛針尖端半徑: 50 μm – 500 μm
尖端外形可選: 針狀, 杯狀, 圓頂型
最大探測(cè)高度: 45mm
最大元件高度: 85mm
速度
行探頭的測(cè)試時(shí)間主要取決于測(cè)試步數(shù)和飛針運(yùn)動(dòng)的速度。短路測(cè)試消耗了很大部分測(cè)試時(shí)間。FLS980柔性測(cè)量系統(tǒng)提供了一系列的測(cè)試策略，包括邊界掃描(JTAG)和NetScanTM，可以在不影響測(cè)試覆蓋率和重復(fù)性的情況下顯著減少測(cè)試時(shí)間。
測(cè)量系統(tǒng)
FLS980 s高速(高達(dá)1000測(cè)量/秒)模擬測(cè)量系統(tǒng)為所有22根飛針(頂部和底部)提供4線(xiàn)測(cè)量能力。所有飛針都可以作為分立和集成模擬數(shù)字器件中的驅(qū)動(dòng)器、傳感器或隔離和集成模擬/數(shù)字元件上的保護(hù)裝置進(jìn)行在線(xiàn)測(cè)試。模擬元件測(cè)試包括電阻、電容、電感、二極管、齊納、晶體管、場(chǎng)效應(yīng)管、晶閘管、光耦合器、開(kāi)關(guān)、微調(diào)器、繼電器、保險(xiǎn)絲和連接器等。測(cè)試模式包括2線(xiàn)測(cè)試、4線(xiàn)測(cè)試(以及僅使用兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)的獨(dú)特的準(zhǔn)4線(xiàn)測(cè)試)。使用兩組單獨(dú)可用的刺激/測(cè)量資源進(jìn)行開(kāi)關(guān)測(cè)試。此外，可以使用電壓測(cè)量模塊對(duì)電壓調(diào)節(jié)器和運(yùn)算放大器進(jìn)行通電測(cè)試。
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